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8V182512IDGGREP

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樊伊零件编号:
8V182512IDGGREP
制造商零件编号:
595-8V182512IDGGREP
制造商:
说明:
特定功能逻辑 Mil Enhanced 3.3V ABT Scan Test Device
寿命周期:
新产品: 此制造商的新产品。
0

规格

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Texas Instruments
逻辑集成电路
 
SN74LVTH182512-EP
3.3 V
- 40 C
+ 85 C
TSSOP-64
Reel
Scan Test Device with Universal Bus Transceiver
 
2
 
- 40 C to + 85 C
 
Texas Instruments
 
SMD/SMT
 
Specialty Function Logic
 
7.7 ns
 
2000
 
Logic ICs
 
V62/04730-01XE
 
262.600 mg
 
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